单点开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。

KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界高分辨率的测试系统。

主要特点：

● 功函分辨率< 3meV

● 手动高度调节

应用领域：

● 有机和非有机半导体

● 金属

● 薄膜

● 太阳能电池和有机光伏材料

● 腐蚀

升级附件：

● 大气光子发射系统

● 表面光电压(QTH or LED)

● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)

● 金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm

● 相对湿度控制和氮气环境箱

这款单点开尔文探针是表面电子分析领域的“精密螺丝刀”。它以相对亲和的配置，提供了触及原子层级的分析灵敏度，并通过模块化设计保持了强大的功能扩展性，是从事材料科学、新能源、半导体物理等领域研究的实

验室的理想入门优异表征设备。