扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。

KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界较高分辨率的测试系统。

主要特点：
● 功函分辨率< 3meV
● 扫描面积：5mm to 300mm（四种型号，每种型号扫描面积不同）
● 扫描分辨率：317.5nm
● 自动高度调节
应用领域：
● 有机和非有机半导体，

● 金属

● 薄膜
● 太阳能电池和有机光伏材料
● 腐蚀
升级附件：
● 大气光子发射系统
● 表面光电压(QTH or LED)
● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
● 金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm
● 相对湿度控制和氮气环境箱

扫描开尔文探针系统是表面功函测量技术的较高水平，系统特别适合半导体器件研发实验室，光伏材料与器件研究机构，腐蚀科学与防护工程团队，表面科学和界面物理研究组，先进功能材料开发企业。其主要价值

在于1-3 meV分辨率是业内典范，为表面科学研究提供前所未有的细节的灵敏度，从基础表面科学到工业质量控制，覆盖半导体、光伏、腐蚀防护等多个关键领域的应用适用性，光激发系统的集成将传统SKP扩展为

完整表面光电特性分析平台，且既满足实验室精密测量的要求，又具备工业环境下的稳定性和重复性的工业级设计。凭借其超高分辨率、非接触测量和多功能扩展的特点，这款扫描开尔文探针系统已成为表面电子特

性表征领域不可或缺的工具，为新材料开发、器件优化和质量控制提供关键的技术支持。