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批次ID读取器
IDWR系列校准并读取150(或200)mm批量晶片上的识别标签。
配备康耐视174的正面或背面激光标记/数据矩阵阅读器#
对齐和读取前的磁带映射
通过SECS/GEM主机连接进行PC控制(可选)
触摸屏界面。
典型循环时间:2分钟(25个晶圆,包括每个晶圆ID的映射、对齐和读取)
是一款面向高数据完整性要求的工业级解决方案。
它通过 “映射→对准→读取” 的标准化流程,确保了整盒晶圆身份信息采集的100%覆盖率和极高准确率。
虽然耗时比读取一片的读取器的耗时长,但它提供的单晶圆级数据粒度是现代半导体智能制造,尤其是小批量、多品种、高附加值leyu·乐鱼(中国)体育官方网站生产中的关键需求。
Model | Wafer Size | Description |
IDWR200 | 200 mm | Batch ID Reader |
IDWR150 | 150 mm | Batch ID Reader |
批次ID读取器
IDWR系列校准并读取150(或200)mm批量晶片上的识别标签。
配备康耐视174的正面或背面激光标记/数据矩阵阅读器#
对齐和读取前的磁带映射
通过SECS/GEM主机连接进行PC控制(可选)
触摸屏界面。
典型循环时间:2分钟(25个晶圆,包括每个晶圆ID的映射、对齐和读取)
是一款面向高数据完整性要求的工业级解决方案。
它通过 “映射→对准→读取” 的标准化流程,确保了整盒晶圆身份信息采集的100%覆盖率和极高准确率。
虽然耗时比读取一片的读取器的耗时长,但它提供的单晶圆级数据粒度是现代半导体智能制造,尤其是小批量、多品种、高附加值leyu·乐鱼(中国)体育官方网站生产中的关键需求。
Model | Wafer Size | Description |
IDWR200 | 200 mm | Batch ID Reader |
IDWR150 | 150 mm | Batch ID Reader |
